A.基本資料：

    1.不良樣品：大功率白光成品。
    2.反饋不良樣品數(shù)量：114pcs。
B.異常內(nèi)容：
    經(jīng)對反饋異常樣品測試，共114pcs樣品中不良情況如下：
    1．測試VF和IR正常88pcs，可正常點亮。取其中5pcs正常品、和1pcs去掉透鏡，再使用350mA常溫條件老化48小時，均未出現(xiàn)死燈不良現(xiàn)象，各項參數(shù)正常。
    2．開路死燈26pcs
C.原因分析/調(diào)查結(jié)果：
    1.針對開路死燈原因分析：
    隨機取6pcs死燈樣品進行拆解分析，發(fā)現(xiàn)其中4pcs存在金線的C點處出現(xiàn)斷線造成死燈；另2pcs在D點處斷線造成死燈。
    附：焊線過程線弧各位置的定義如下圖：

    圖1：焊線定義圖
    A點：晶片電極與金球結(jié)合處；
    B點：金球與金線結(jié)合處即球頸處；
    C點：焊線線弧所在范圍；
    D點：支架二焊焊點與金線結(jié)合處；
    E點：支架二焊焊點與支架陽極結(jié)合處；
    2.從斷點死燈的情況來看，造成斷線的一般原因有：
    2.1.針對C點斷線：
    2.1.1、金線本身延伸力不足；這點不用多說，拉力測試可以檢測出是否達到金線規(guī)格書所標(biāo)稱的拉力值；金線本身延伸力不足也是與加工表面光滑度有關(guān)，好比“封口膠帶”；邊緣不破損時可抗很強的拉力，倘若邊緣破損，則稍微用力即可拉斷，道理相似。
    2.1.2、瓷嘴污染、磨損造成金線內(nèi)傷斷線、人工修線弧造成金線刮傷；情形與2.1.1.相似。如下圖2示意圖。
    圖2：受損金線圖

    2.1.3、外力過大/膠水內(nèi)應(yīng)力拉扯斷線；針對外力過大拉斷金線，后面3.2做詳細分析。
    這部分主要是瓷嘴質(zhì)量問題，使用超過壽命所致；瓷嘴壽命不能以固定“實際打線產(chǎn)量”為準(zhǔn)，而是結(jié)合焊線效果決定；當(dāng)不足產(chǎn)量要求時，若已經(jīng)造成焊線效果不合格(結(jié)合高倍率顯微鏡檢驗)，也應(yīng)立即更換；另外，人工返工塌線修線不當(dāng)亦可造成金線刮傷。上圖為金線刮痕。
    2.2. 針對D點斷線：
    2.2.1、焊線參數(shù)優(yōu)化匹配不當(dāng)：如功率和壓力過大等；
    焊線參數(shù)調(diào)整，主要強調(diào)檢驗：A點位置的結(jié)合力、B點位置的金球到金線的光滑過渡和D點金線到焊巴的逐漸過渡如圖4所示；而焊線參數(shù)優(yōu)化匹配不當(dāng)如功率和壓力過大等均會造成焊巴過扁過薄而抗拉力不足；如下圖所示：

　　圖3 ：不良二焊焊巴

　　圖4 ：OK二焊焊巴

　　2.2.2、瓷嘴尺寸與金線匹配不當(dāng)；瓷嘴內(nèi)徑過小會刮花金線；內(nèi)徑過大則會使金線在焊線過程中滑動不定、滑球等不良，也降低抗拉力程度。
    2.2.3、外力(膠水內(nèi)應(yīng)力)過大拉扯斷線；針對外力過大拉斷金線，后面3.3做詳細分析。
    3.從此次分析的不良樣品看，從斷線的C點位置來看，均出現(xiàn)在透鏡“壓彎折”處；如下圖5：

　　如圖5所示：正常情況下線弧形成的弧形是平滑的曲線；而實際成品的線弧被透鏡壓了一個彎折處如圖5所示，該彎折出彎折的角度接近90°的彎折角。此彎折過程一定對D點處的焊線有一定的拉扯力。而對B點處的位置，由于線弧還有一定的長度，可以緩沖這部分的拉力。

　　3.1、如圖6透鏡的“紅色內(nèi)圈和藍色外圈”，與圖7“支架的紅色內(nèi)圈和藍色外圈”相對應(yīng)，從圖7明顯看出，透鏡的內(nèi)邊緣直接壓金線折成約90°彎折角度。

    3.2、抽6pcs死燈的樣品分析，有4pcs均是從“金線彎折處”斷線；此斷線原理，一般是彎折過程透鏡邊緣過于“鋒利”，加之壓彎之外力較大，造成金線破損，在后續(xù)燈珠“工作過程”膠體的不定向內(nèi)應(yīng)力作用最后摧斷金線。另外一種情況，由于金線斷線后，仍是接觸得很近，低溫時保持接觸，仍可以點亮，但是隨著工作溫度的升高，膠體內(nèi)應(yīng)力變大金線稍微受力脫離接觸點，即會出現(xiàn)開路死燈，或是“時亮?xí)r不亮”的異常。
    3.3 、從6pcs 死燈樣品分析有2pcs 均是從“D點處”斷線(就是焊線與焊巴的結(jié)合處斷線)；此處斷線原因在2.2.1做過分析，這里重點分析外力造成斷線，從3.2分析可知，二焊的D點受力，以及制程的拉力測試均通過，均可以說明二焊焊線參數(shù)不當(dāng)或瓷嘴不良造成二焊D點受力不足的可能性次之，反而“蓋透鏡”時透鏡壓彎拉扯金線造成的損傷可能性要居首位。
    4.綜上所述：
    4.1.從以上分析可判斷，造成死燈的原因是斷線開路造成死燈；
    4.2.造成斷線的因素眾多，從不良樣品分析看，透鏡內(nèi)壁邊緣壓彎折金線造成金線破損是根本原因。且所有分析的未死燈的良品中，拆下透鏡，都可以發(fā)現(xiàn)，金線彎折處是直接接觸透鏡邊緣，金線與透鏡之間并未有膠體隔離，極易于使金線與透鏡之間形成摩擦使金線破損斷線；另從過去的異常“熒光粉處斷線”來看，可以說明“外力致使金線斷線”這一點。
    D.預(yù)防對策：
    針對4.2之異常原因，提供如下之預(yù)防，僅供參考：
    1.預(yù)防對策一：調(diào)整焊線工藝，使二焊靠近銅柱(或使線弧變低)，或可能的話，改變透鏡與支架的匹配規(guī)格)，避開透鏡直接壓到金線的線弧。
    2.預(yù)防對策二：在“蓋透鏡制程”中，避免員工斜著蓋透鏡(即員工為了加快速度，定位時，先斜著扣壓透鏡的一邊“耳朵”，然后再扣下整個透鏡)，這樣具有定位作用的扣下的“第一耳朵”就有可能過壓金線造成金線破損。蓋透鏡正確做法是對準(zhǔn)后，把透鏡直接垂直蓋下去。
    3.預(yù)防對策三：透鏡壓邊確保到位，這樣避免透鏡后續(xù)的移動磨損金線而使金線受力不足斷線；
    4.預(yù)防對策四：注膠制程，手動注膠時速度放慢些，理由有三：一是有利于空氣的排出；二是減少膠量的浪費；更重要的是第三，就是減少注膠時的膠水沖力對二焊D點的沖擊造成內(nèi)損。